11 a 14 de Novembro de 2013
Fortaleza – CE
Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Monitores: Tereza Raquel Souza e Yuri Magalhães do Carmo
Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 4 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso do difratômetro pelos participantes (preparação de amostras), acesso a bases de dados de estruturas cristalinas (CAPES) e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento DBWS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores residentes fora de Fortaleza que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.
Instrutor:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.
Local:
As aulas teóricas serão ministradas na sala do prof. Sasaki e as aulas práticas no Laboratório de Raios-X (X-Pert MPD – Panalytical).
Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios-X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013
Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.
Carga horária:
3 horas de aula teórica e 9 hora de aula prática
Total: 12 horas
Inscrição:
● Preencher o formulário de inscrição que se encontra na homepage http://www.astef.ufc.br
● Serão oferecidas somente 20 vagas. A lista de pré-inscritos será usada para fazer a seleção.
● Somente os participantes que tiver frequência acima de 75% receberão certificados.
● Importante: Serão aceitas somente inscrições de participantes que residem e estudem fora da cidade de Fortaleza. O participante deverá enviar (cursos@astef.ufc.br) o comprovante de matrícula (para alunos de iniciação científica e pós-graduação), comprovante de pagamento e o comprovante de residência.
● Na sexta-feira dia 8/11/2013 (às 19:00 horas) da semana anterior ao início do curso será feito um teste de conexão entre os participantes.
Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.astef.ufc.br
Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)
Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição caso o número mínimo de participantes não atingir a 10 (dez).
Programação do Curso:
● 11/11/2013 – Segunda-Feira
19:00 – Abertura
19:30 – 22:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico, Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.
● 12/10/2013 – Terça-Feira
19:00 – 22:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa DBWS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
Aula experimental: preparação das amostras, medidas dos padrões de difração, envio das medidas, identificação de fases, consulta base de dados e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).
● 13/11/2013 – Quarta-Feira
19:00 – 22:00
Aula experimental: preparação das amostras, medidas dos padrões de difração, envio das medidas, identificação de fases, consulta base de dados e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).
● 14/11/2013 – Quinta-Feira
19:00 – 22:00
Aula experimental: preparação das amostras, medidas dos padrões de difração, envio das medidas, identificação de fases, consulta base de dados e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).
● Sexta-feira e final de semana
Exercícios: Refinamentos pelos participantes
● 18/11/2013 – Segunda-Feira
19:00 – 22:00
Aula tira-dúvidas: Dúvidas teóricas e práticas.
22:00 – Encerramento e considerações finais
Material Didático:
● Os participantes receberão todas instruções na semana anterior e os programas que serão utilizados durante o curso.
● Material: slides sobre teoria da difração e Método Rietveld, apostila e notas de aula.
● O curso será gravado e disponibilizado na página do Laboratório de Raios-X da UFC.
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